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List of ASTM Volume 10.04 Standards

121 standards

American National Standards Institute Inc.

  • ASTM F1578 – メンブレンスイッチの閉鎖サイクルの標準試験法

  • ASTM F2771 – 周囲条件における電界発光ランプの輝度曲線を決定するための標準試験法

  • ASTM F1262M – トランジェント放射の標準ガイドデジタル集積回路のアップセットしきい値テスト(メトリック)

  • ASTM F1845 – 高質量分解能グロー放電質量分析計による電子グレードのアルミニウム – 銅、アルミニウム – シリコンおよびアルミニウム – 銅 – シリコン合金の微量金属不純物の標準試験法

  • ASTM E2544 – 3次元(3D)イメージングシステムの標準用語

  • ASTM F1438 – 走査型トンネル顕微鏡によるガス分布システム部品の表面粗さの測定のための標準試験法

  • ASTM F18 – 電子デバイスに使用されるガラス – 金属ヘッダの評価のための標準仕様書および試験方法

  • ASTM F375 – 集積回路リードフレーム材料の標準仕様書

  • ASTM E3064 – 6自由度(6DOF)姿勢を測定する光追跡システムの性能評価のための標準試験法

  • ASTM F205 – 計量による細線の直径測定のための標準試験法

  • ASTM E2641 – 3Dイメージング技術の安全な応用のためのベストプラクティスの標準実践

  • ASTM F2924 – 添加剤製造のためのチタン-6アルミ4バナジウムの標準仕様書

  • ASTM F2865 – メンブレンスイッチへの塵や水の侵入の程度を分類するための標準ガイド

  • ASTM F1190 – バイアスのない電子部品の中性子照射標準ガイド

  • ASTM F2931 – 材料および製品における非常に懸念される物質の分析試験の標準ガイド

  • ASTM F106 – 電子デバイス用ろう付金属の標準仕様書

  • ASTM F1269 – ボールボンドの破壊的せん断試験のための標準試験法

  • ASTM F30 – 鉄ニッケル密封合金の標準仕様書

  • ASTM F1512 – スパッタリングターゲットバッキングプレートアッセンブリの超音波C-スキャンボンド評価の標準実践

  • ASTM F1711 – 4点プローブ法を用いたフラットパネルディスプレイ製造用薄膜導体のシート抵抗測定の標準実践

  • ASTM F2592 – 膜スイッチの変位を測定するための標準試験法

  • ASTM F2617 – エネルギー分散型X線分光法を用いた高分子材料のクロム、臭素、カドミウム、水銀および鉛の同定と定量のための標準試験法

  • ASTM F288 – 電子デバイスおよびランプ用のタングステンワイヤの標準仕様書

  • ASTM F2971 – 添加剤製造で作成した試験体のデータを報告するための標準プラクティス

  • ASTM F390 – コリニア4プローブアレイを用いた薄い金属膜のシート抵抗の標準試験法

  • ASTM F2749 – メンブレンスイッチまたはプリントされた電子デバイスの折り目付けの影響を決定するための標準テスト方法

  • ASTM F1372 – 走査電子顕微鏡(SEM)の標準試験法ガス分配システム構成要素のための金属表面状態の分析

  • ASTM F3147 – ローリング・マンドレル・ベンドによるフレキシブル回路上の表面実装デバイス(SMD)接合部の信頼性を評価するための標準試験法

  • ASTM F1513 – 電子薄膜応用のための純粋なアルミニウム(未合金)ソース材料の標準仕様書

  • ASTM F19 – メタライズドセラミックシールの張力試験と真空試験の標準試験法

  • ASTM E2807 – 3Dイメージングデータ交換の標準仕様書、バージョン1.0

  • ASTM F1683 – メンブレンスイッチ、メンブレンスイッチフレックステールアセンブリまたはメンブレンスイッチコンポーネントの折り目付けまたは曲げのための標準プラクティス

  • ASTM F1761 – 円形磁気スパッタリングターゲットの通過磁束の標準試験法

  • ASTM F256 – 18または28パーセントのクロムを含むクロム – 鉄シール用合金の標準仕様書

  • ASTM F2577 – 宣言可能物質のための材料と製品の評価のための標準ガイド

  • ASTM F2187 – メンブレンスイッチまたはメンブレンスイッチアセンブリに対するランダム周波数振動の影響を決定するための標準試験法

  • ASTM F1896 – 印刷された導電性材料の電気抵抗率を決定するための試験方法

  • ASTM F2853 – 複数の単色励起ビームを用いたエネルギー分散型X線蛍光分光法によるペイント層および類似のコーティングまたは基板および均質材料中の鉛の測定のための標準試験法

  • ASTM F459 – マイクロエレクトロニクスワイヤーボンドの引っ張り強度を測定するための標準試験法

  • ASTM F2725 – 欧州連合(EU)の化学物質の登録、評価、認可に関する標準ガイド(REACH)サプライチェーン情報交換

  • ASTM F1710 – 高質量分解能グロー放電質量分析計による電子グレードチタンの微量金属不純物の標準試験法

  • ASTM F96 – 鍛造形態の銅およびニッケルの電子グレード合金の標準仕様書

  • ASTM F289 – 電子アプリケーション用モリブデンワイヤおよびロッドの標準仕様書

  • ASTM F1709 – 電子薄膜アプリケーション用高純度チタンスパッタリングターゲットの標準仕様書

  • ASTM F2113 – 電子薄膜アプリケーションの高純度金属スパッタリングターゲットの不純物含有量およびグレードの分析および報告のための標準ガイド

  • ASTM F1398 – ガス分配システム構成要素による総炭化水素寄与の決定のための標準試験法

  • ASTM F1762 – 大気圧変動が膜スイッチに及ぼす影響を決定するための標準試験法

  • ASTM F2964 – エレクトロルミネッセンスランプまたは他の拡散照明装置の輝度の均一性を決定するための標準試験法

  • ASTM E2919 – 静的、6自由度(6DOF)、ポーズを測定するシステムの性能を評価するための標準試験法

  • ASTM F16 – 電子デバイスおよびランプのためのワイヤおよびリボンの直径または厚さを測定するための標準試験法

  • ASTM F1894 – タングステンシリサイド半導体プロセス膜の組成および厚さの定量方法

  • ASTM F2980 – 電界によるガラス中の重金属分析のための標準試験法ポータブルX線蛍光(XRF)

  • ASTM F2576 – 材料の宣言可能な物質に関する標準用語

  • ASTM F1374 – 内面のイオン性/有機性抽出物の標準試験法-IC / GC / FTIR – ガス分配システム部品

  • ASTM F364 – 電子管用モリブデン扁平線の標準仕様書

  • ASTM F2405 – 高質量分解能グロー放電質量分析計による高純度銅中の微量金属不純物の標準試験法

  • ASTM F219 – 電子デバイスとランプ用の細い線とフラット線を試験する標準試験法

  • ASTM F3001 – 添加剤製造のための標準仕様書粉ミルクによるチタン-6アルミニウム-4バナジウムELI(余分な低侵入型)

  • ASTM F1892 – 電離放射線標準ガイド(総線量)半導体デバイスの試験

  • ASTM F1895 – メンブレンスイッチの浸水のための標準試験法

  • ASTM F180 – 電子デバイス用細線およびリボン線の密度の標準試験法

  • ASTM F1812 – メンブレンスイッチまたはプリントされた電子デバイスへのESD放電の影響を決定するための標準テスト方法

  • ASTM F3049 – 添加剤製造プロセスに使用される金属粉末の特性を評価するための標準ガイド

  • ASTM F1689 – メンブレンスイッチの絶縁抵抗を決定するための標準試験法

  • ASTM F1466 – 金属 – セラミックシール用途のための鉄 – ニッケル – コバルト合金の標準仕様書

  • ASTM F2072 – メンブレンスイッチのHosedownの標準試験法

  • ASTM F1684 – 低熱膨張用途向けの鉄ニッケルおよび鉄ニッケルコバルト合金の標準仕様書

  • ASTM F458 – ワイヤボンド1,2の非破壊プル・テストの標準プラクティス

  • ASTM F3139 – 誘導結合プラズマ発光分析法を用いた微量元素の錫系はんだ合金分析のための標準試験法

  • ASTM F3091 – プラスチック材料の粉末床融合のための標準仕様書

  • ASTM F1593 – 高質量分解能グロー放電質量分析計による電子グレードアルミニウム中の微量金属不純物の標準試験法

  • ASTM F1893 – 半導体デバイスのイオン化線量率の存続可能性とバーンアウトの測定ガイド

  • ASTM F980 – シリコン半導体デバイスにおける中性子誘起変位損傷の迅速なアニーリングの測定のための標準ガイド

  • ASTM F29 – ガラスと金属のシール用途のためのDumetワイヤの標準仕様書

  • ASTM F3152 – 乾式または湿式砥粒媒体を用いた基材上のインクおよび塗膜の耐磨耗性を決定するための標準試験法

  • ASTM F3166 – スルーシリコンビア(TSV)メタライゼーションに使用される高純度チタンスパッタリングターゲットの標準仕様書

  • ASTM F2112 – メンブレンスイッチの標準用語

  • ASTM F1367 – 薄膜応用のためのクロムスパッタリングターゲットの標準仕様書

  • ASTM F1843 – 鏡面光沢測定のための膜スイッチオーバレイに使用されるプラスチックフィルムの試料調製のための標準プラクティス

  • ASTM F1375 – ガス分配システム構成要素のための金属表面状態のエネルギー分散X線分光計(EDX)分析のための標準試験法

  • ASTM F7 – 酸化アルミニウム粉末の標準仕様書

  • ASTM F2073 – 膜スイッチの非破壊短絡試験のための標準試験法

  • ASTM F615M – 半導体部品の金属化のための安全な電流パルス動作領域を決定するための標準プラクティス(メートル法)

  • ASTM F44 – セラミックスのメタライズ表面の標準仕様書

  • ASTM F269 – タングステン線のサグの標準試験法

  • ASTM F1594 – 真空コーティング用純アルミニウム(未合金)ソース材料の標準仕様書

  • ASTM F1376 – ガス分配システムコンポーネントの冶金分析の標準ガイド

  • ASTM F3078 – エネルギー分散型X線蛍光分光法(EDXRF)を用いた塗料および類似のコーティング材料の鉛の同定および定量のための標準試験法

  • ASTM F3192 – スルーシリコンビア(TSV)メタル化に使用される高純度銅スパッタリングターゲットの標準仕様書

  • ASTM F1397 – ガス分配システム構成要素による水分寄与の決定のための標準試験法

  • ASTM F204 – タングステンシールロッドとワイヤの表面疵の標準試験法

  • ASTM F1595 – メンブレンスイッチの目視検査のための条件を表示するための標準プラクティス

  • ASTM F15 – 鉄 – ニッケル – コバルト密封合金の標準仕様書

  • ASTM F31 – ニッケル – クロム – 鉄シール用合金の標準仕様書

  • ASTM F2750 – メンブレンスイッチまたはプリントされた電子デバイスの曲げの影響を決定するための標準試験法

  • ASTM F3122 – 添加剤製造プロセスによる金属材料の機械的特性評価のための標準ガイド

  • ASTM F2357 – Norman Tool “RCA” Abraderを用いたメンブレンスイッチのインキおよびコーティングの耐摩耗性を決定するための標準試験法

  • ASTM E2938 – 中範囲の3D画像システムの相対的な測定性能を評価するための標準試験法

  • ASTM F2359 – 拡散光源によるバックライトのメンブレンスイッチの色を決定するための標準試験法

  • ASTM F448 – 定常一次光電流を測定するための試験方法

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